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產(chǎn)品介紹
標(biāo)準(zhǔn)延遲線探測器 (DLD) 已經(jīng)結(jié)合了廣泛的應(yīng)用。與其他技術(shù)（例如象限陽極、電阻屏陽極、CCD 相機(jī)）相比，延遲線技術(shù)的限制要少得多。沒有其他技術(shù)能夠提供如此廣泛的參數(shù)，如高粒子率、高位置分辨率和低死區(qū)時間。借助 RoentDek HEX 探測器，延遲線技術(shù)已達(dá)到新的水平。從歷史上看，它們是為同時和無死區(qū)時間檢測多個電子而開發(fā)的。到目前為止，沒有其他探測器概念在具有零死區(qū)的多重命中性能方面接近。
RoentDek HEX 探測器有各種尺寸，從 40 毫米有效面積到 120 毫米有效直徑 - 既可以作為單個設(shè)備，也可以作為完整系統(tǒng)的一部分，其中包括一整套所需的電子設(shè)備和完整的軟件解決方案（包括對 LabView 的支持）。
RoentDek 始終專注于多粒子檢測（例如，記錄完整分子碎片所需的檢測）。硬件和軟件中的死區(qū)時間（min）和多次命中能力是我們理念的基本部分。
性能特點
- 多粒子檢測。
- 零死區(qū)時間（如果粒子間隔至少 10 毫米）。
- 改進(jìn)的圖像線性。
- 對實現(xiàn)的位置分辨率進(jìn)行內(nèi)在診斷在線控制。
- 可提供中心孔。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)地：德國
設(shè)計：3 層
粒子速率：超過 1 MHz
檢測：多粒子
absolute檢測效率：81%
位置分辨率：17 至 45 µm（RMS）
定時TOF分辨率：25 至 100 ps（RMS）
有效面積：40 毫米
有效直徑：120 毫米
探測類型：標(biāo)準(zhǔn)延遲線
死區(qū)時間：零
產(chǎn)品應(yīng)用
原子/分子物理學(xué)
動量光譜（例如 COLTRIMS 反應(yīng)顯微鏡）
激光和同步加速器測量
VMI
與其他探測器的巧合測量
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